新型膜厚控制仪器1
CDNY-06AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。
eONE高精度pA电流计
eONE是世界上小的检测纳米孔和单通电生理学的电流放大器，具有USB接口，单通道数据识别系统。eONE整合了滴噪声放大器、数字转换器、滤波器和电位激发器，其尺寸只有30x15x74mm，非常适合生物纳米孔和固体纳米孔的研究。
ZKF-1A卡尔费休水分测定仪
该产品在ZKF1基础上配置了运算打印器，将测定数据及输入值经运算后可通过数显或打印将结果输出。该仪器测试技术指标及性能上属国内领先水平。获国家知识产权局颁
DWG-5088型工业钠度计
微机化：采用高性能CPU芯片、高精度AD转换技术和SMT贴片技术，完成多参数测量、温度补偿、量程自动转换、仪表自检、精度高、重复性好高可靠性：单板结构，触摸式按键，无开关旋钮和电位计。响应迅速、测量准确、稳定。